nano measurer粒度分析软件

nano measurer是一款简易的粒度分析计算软件，能够针对一些图片文档微奈米限度下的长短，直徑，和直径等规格数据分析，及其颗粒间间距剖析。

nano measurer粒度分析手机软件如何使用

以SEM相片直徑统计分析为例子：

第一步，双击鼠标软件图标，点一下“文档”-“开启”，导进要标明规格的图片，在透射电镜图片原来尺标处按着鼠标左键没放，拖拽电脑鼠标，与尺标等长画线，点一下“设定”-“尺标”，键入尺标真正长短和企业，如图所示5；

图 5 尺标设定

第二步，拖拽电脑鼠标在透射电镜上标识要统计分析的部位，每标识一个部位，程序流程会纪录其编号和规格，結果会在“及时汇报”对话框中表明，如图所示8；

图 6 数据信息标识

假如公差标注实际效果不理想化，可将电脑鼠标放到透射电镜图片的规格编号上，点击鼠标点击删掉，或在“及时汇报”对话框中选取某一规格编号，点击鼠标点击删掉；在精确测量规格全过程中，能够点击菜单“设定”-“标识”，挑选颗粒编号在记号线的具体位置和色调；

第三步，当被检测的规格数量做到10个,能够点击菜单栏“汇报”-“查看报告”，能够查询基本汇报和数据分析汇报，统计分析汇报又可以导出来为txt格式或bpm图片，txt格式数据信息能够导进origin做图，如图所示7。

图 7 统计分析汇报

精确测量规格全过程中，可随时随地在透射电镜图片的空缺地区内，点击鼠标点击，挑选菜单栏变大变小透射电镜图片（较大变大3倍，最少变小0.25倍）。

nano measurer粒度分析程序安装表明

假如安裝流程中发生 msvbvm60.dll 安裝失败，造成安裝后，粒度遍布测算因为缺乏 msvbvm60.dll 而无法运作。

请在系统软件会弹出来有关msvbvm60.dll文档不正确提示框时挑选忽视(Ignore),再次安裝,随后将msvbvm60.dll文档拷贝到电子计算机的C:\windows\system32文件目录下.

If find the error of the file of msvbvm60.dll, appeared during the installation of Nano Measure and thus the program Nano Measure could not be run due to the lack of important file msvbvm60.dll.

You can solve the problem as follows: when the window describing the error of msvbvm60.dll appears during the installation, please choose Ignore. After the installation, copy the file msvbvm60.dll and paste it into the directory of C:\windows\system32(for Win2000, Xp, 2003) or C:\windows\system(for Win 98, Me).

粒度分析实际意义

在现实生活中，有很多行业例如电力能源，原材料，药业，化工厂，冶金工业，电子器件，机械设备，轻工业，工程建筑及环境保护等都与原材料的粒度分子结构密切相关。在纤维材料层面，如聚乙烯树脂是一种多皮肤毛孔的粉末状化学物质，其特性和性能不但受分子结构特点（相对分子质量，相对分子质量遍布，链构造）危害，并且与分子结构组织学特点（如颗粒表层外貌，均值粒度，粒度遍布）有紧密的关联。高压聚乙烯的分子结构和组织学又选择了高聚物成形生产时的特点和产品性能。研究表明，环氧树脂的颗粒形状好，均值粒度适度，粒度遍布匀称有益于高聚物成形生产加工，因而，大家通常必须对聚乙烯环氧树脂开展粒度分析检测。在纳米技术添加物改性材料塑料层面，在塑料中加上纳米复合材料做为塑料的补充原材料，不但能够提升塑料的冲击韧性，还能够提升塑料对汽体的密闭式性能及其提升阻燃性等性能。这种性能的反映立即和加上的纳米复合材料的样子，颗粒尺寸及其遍布等要素拥有密切相关。因而，务必对这种纳米技术添加物开展颗粒度的表现和剖析。

在当代结构陶瓷层面，纳米技术颗粒组成的作用瓷器是结构陶瓷科学研究的主要方位。根据应用纳米复合材料产生作用瓷器能够明显更改作用瓷砖的物理学性能，如延展性。瓷器粉末原材料的很多关键特点均由颗粒的均值粒度及粒度遍布等主要参数所决策。在油漆行业，色浆粒度决策其上色工作能力，添加物的颗粒尺寸决策了涂膜抗压强度和耐磨损性能。在电子类材料行业，夜光粉粒度决策电视，监控器等不一样的表明分辨率和画面质量。在金属催化剂行业，金属催化剂的粒度，遍布及其外貌也一部分地确定其催化剂的活性。因而，伴随着科技发展趋势，相关颗粒粒度分析技术性遭受大家的广泛高度重视，早已逐步发展壮大变成测量学中的一支关键支系。