超声波局放检测中,通过单传感器判断缺陷在罐体或中心导体上的方法:()。

时间:2024-07-31 关注公众号 来源:网络

关于"超声波局放检测中,通过单传感器判断缺陷在罐体或中心导体上的方法:()。"的答案很多朋友不是很清楚,接下来小编就为介绍一下改题答案吧。

超声波局放检测中,通过单传感器判断缺陷在罐体或中心导体上的方法:()。

A.通过调整测量频带的方法,将带通滤波器测量频率从100kHz减小到50kHz,如果信号幅值明显减小,则缺陷位置应在壳体上

B.通过调整测量频带的方法,将带通滤波器测量频率从100kHz减小到50kHz,如信号水平基本不变,则缺陷位置应在中心导体上

C.如果信号水平的最大值在罐体表面周线方向的较大范围出现,则缺陷位置应在中心导体上

D.如果信号水平的最大值在一个特定点出现,则缺陷位置应在壳体上

正确答案:ABCD

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